該設(shè)備用于膜電極的外觀瑕疵檢測及2D尺寸測量，詳情如下：
邊 框 區(qū)：氣泡、劃傷、褶皺、波浪紋等（需具體評估）
反 應(yīng) 區(qū)：質(zhì)子膜穿孔/破損、催化劑層脫落等（需具體評估）
GDL破損、GDL斷裂等（需具體評估）
尺寸測量：產(chǎn)品總長寬尺寸測量、產(chǎn)品孔槽特征內(nèi)徑尺寸測量等（需具體評估）
該設(shè)備采用2個高清相機相機
光柵尺觸發(fā)獲取圖像
世椿自研檢測系統(tǒng)，重復(fù)精度±0.02mm，超大數(shù)據(jù)存儲容量
主要工藝
膜電極的外觀瑕疵檢測機的設(shè)計旨在開發(fā)一款能夠?qū)δる姌O進行高精度瑕疵檢測的設(shè)備，匹配五合一半成品膜電極檢測及七合一成品膜電極檢測等應(yīng)用場景。設(shè)備采用高精度高清相機進行掃描成像，世椿自研檢測系統(tǒng)。產(chǎn)品支持全自動/半自動/人工上下料。
